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heidenhain海德汉光栅尺产品资料下载

点击次数:631 发布时间:2018/3/19
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heidenhain海德汉光栅尺产品资料下载
海德汉封闭式光栅尺能有效防尘、防切屑和防飞溅的切削液,是用于机床的理想选择。敞开式光栅尺与读数头和光栅尺或钢带间没有机械接触。这些光栅尺的典型应用包括:测量机、比较仪和其它长度计量精密设备以及生产和测量设备,例如用在半导体工业中。增量式光栅尺决定当前位置的方式是由原点开始数测量步距或细分电路的计数信号数量。海德汉的增量式光栅尺带有参考点,开机时必须执行参考点回零,操作非常简单、快捷。式光栅尺无需执行参考点回零操作就能直接提供当前位置值。光栅尺的位置值通过EnDat接口或其它串行接口传输。闭环中的海德汉直线光栅尺确保工件高精度。

 

海德汉公司的封闭式直线光栅尺能有效防 尘、防切屑和防飞溅的切削液,是用于机 床的理想选择。
精度等级 ± 2 μm
测量步距至 0,001 μm
测量长度至30 m
安装简单、快捷
安装公差大
能承受大加速度载荷
抗污染能力强

 

海德汉封闭式直线光栅尺的铝外壳有效保 护光栅尺、读数头和导轨,避免其受灰 尘、切屑和切削液的影响。 自动向下压的 弹性密封条保持外壳密封。读数头沿光栅尺的小摩擦力导轨运动。 读 数头通过一个联轴器与外部安装架连接, 联轴器可以补偿光栅尺与机床导轨间不可 避免的对正误差。
封闭式直线光栅尺有
标准光栅尺外壳
– 用于振动强烈的应用
– zui大测量长度30 m
紧凑光栅尺外壳
– 用于有限安装空间应用
– zui大测量长度1240 mm, 如果用安装板或紧固件,zui大测量长 度2040 mm


海德汉公司用于数控机床的直线光栅尺几乎可以适应任何应用。它是所有进给轴为伺服控制环控制的机器和设备的*选择,例如铣床、加工中心、镗床、车床和磨床。直线光栅尺的动态性能优点,允许的运动速度高,沿测量方向的加速性能使其不仅能满足常规轴高动态性能要求,也能满足直接驱动电机的高动态性能要求。


直线光栅尺优点
直线光栅尺测量直线轴位置过程期间没有任何其它机械传动件。用直线光栅尺的位置控制环中包括全部进给机构。机械运动误差被滑板中的直线光栅尺检测和被控制系统电路修正。因此它能消除潜在多项误差源。滚珠丝杠温度特性导致的定位误差、反向误差、滚珠丝杠螺距误差导致的运动特性误差因此,直线光栅尺是高精度定位和高速加工机床*的基础技术手段。


机械结构
用于数控机床的直线光栅尺为封闭式结构:铝壳保护光栅尺、读数头和导轨,避免灰尘、切屑和切削液进入。自动向下压的弹性密封条保持外壳密封。读数头沿光栅尺的小摩擦力导轨运动。连接器将读数头与安装块连接在一起并补偿光栅尺与机床导轨间的不对正误差。光栅尺和安装板间的横向和轴向误差允许为± 0.2 mm至± 0.3 mm,具体数值与光栅尺型号有关。

 

热特性
切削速度的提高和全封闭机床的广泛应用使机床防护罩内的温度不断提高。由于直线光栅尺的温度特性直接决定机床加工精度,因此,直线光栅尺的温度特性越来越重要。通常,直线光栅尺的热特性需与工件或被测对象一致。温度变化时,直线光栅尺的膨胀或收缩特性必须确定和可重复。海德汉公司的直线光栅尺就是符合这种要求的的光栅尺。海德汉公司的直线光栅尺基体具有确定的热膨胀系数。因此,用户可以选择其应用所需温度特性的直线光栅尺。


动态性能
机床效率和机床性能的不断提高必然要求更快的进给速度和更高的加速度,同时还必须保持高水平的加工精度。要快速和准确地传递进给运动,就要求机床和直线光栅尺具有更高的刚性。海德汉公司的直线光栅尺在测量方向的刚性非常高。这是机床能有高质量和高精度运动的前提条件。此外,光栅尺优良的动态性能还来源于其运动部件重量的进一步减轻。


可用性
机床进给轴行程非常大,三年的运动行程通常要达到10 000 km。因此,光栅尺的长期稳定和坚固可靠格外重要:它是保证机床稳定可用的基础。由于海德汉公司的直线光栅尺在设计中充分考虑了各个细节,即使光栅尺工作多年后依然能正常使用。非接触的光电扫描测量基准和光栅尺壳中的读数头的滚珠导轨结构是光栅尺超长使用寿命的保证。这种密闭式结构和特殊的扫描原理以及压缩空气的正压环境使海德汉公司的直线光栅尺具有*的抗污染能力。完善的防护措施确保了高水平的抗电气噪声的能力。


紧凑外壳的直线光栅尺主要用于安装空间有限的地方。如果测量长度较大和加速负荷较大,可能需要使用安装板或固定件。标准外壳直线光栅尺的特点是结构坚固、抗振能力强和测量长度大。读数头通过一个斜板与安装架连接,因此允许安装板在垂直位置安装和水平位置安装,并具有相同的防护等级。

 

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海德汉公司的光学扫描型光栅尺或编码器的测量基准都是周期刻线-光栅。这些光栅刻在玻璃或钢材基体上。大长度测量用的光栅尺基体为钢带。海德汉公司用特别开发的光刻工艺制造精密光栅。
AURODUR:在镀金钢带上蚀刻线条,典型栅距40 μmMETALLUR:抗污染的镀金层金属线,典型栅距20 μmDIADUR:玻璃基体的超硬铬线(典型栅距20 μm)或玻璃基体的三维铬线格栅(典型栅距8 μm)SUPRADUR相位光栅:光学三维平面格栅线条,*抗污能力,典型栅距不超过8μmOPTODUR相位光栅:光学三维平面格栅线条,超高反光性能,典型栅距不超过2μm。

 

测量法是指编码器通电时就可立即得到位置值并随时供后续信号处理电子电路读取。无需移动轴执行参考点回零操作。位置信息来自一系列码构成的光栅刻线。单独的增量刻轨信号通过细分生成位置值,同时也能生成供选用的增量信号。增量测量法的光栅由周期性刻线组成。位置信息通过计算自某点开始的增量数(测量步距数)获得。由于必须用参考点确定位置值,因此在光栅尺或光栅尺带上还刻有一个带参考点的轨道。参考点确定的光栅尺位置值可以到一个测量步距。

 
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